掃描電鏡圖片

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于掃描電鏡圖片的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

• 1、掃描電鏡圖片如何處理

• 2、掃描電鏡放大倍數(shù)的實(shí)質(zhì)是什么?為什么樣品上同一個(gè)點(diǎn)高倍聚焦后從低倍到高倍

• 3、用matlab給圖片做FFT，想在FFT上面加上比例尺。

• 4、掃描電鏡圖片怎么框起來(lái)

一、掃描電鏡圖片如何處理

簡(jiǎn)單的標(biāo)個(gè)數(shù)量個(gè)長(zhǎng)度的話DigitalMicrograph最好用,更復(fù)雜的要做一些inset或者其他處理可能要借助其他圖片軟件,像coreldraw我比較喜歡用.PS你這個(gè)圖無(wú)論標(biāo)尺還是晶格的文字也太小了點(diǎn)，發(fā)表的話看不清楚額

二、掃描電鏡放大倍數(shù)的實(shí)質(zhì)是什么?為什么樣品上同一個(gè)點(diǎn)高倍聚焦后從低倍到高倍

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掃描電子顯微鏡的原理 掃描電子顯微鏡的性能參數(shù)和意義



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2292 ★關(guān)注

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摘要：掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。那么你知道掃描電子顯微鏡的原理是什么嗎？掃描電鏡由電子槍發(fā)射出電子束，在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理，最終成像在顯示系統(tǒng)上。下面一起來(lái)看下掃描電子顯微鏡的其他知識(shí)。

一、掃描電子顯微鏡的原理

掃描電鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉(zhuǎn)線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產(chǎn)生信號(hào)電子。這些信號(hào)電子經(jīng)探測(cè)器收集并轉(zhuǎn)換為光子，再經(jīng)過(guò)電信號(hào)放大器加以放大處理，最終成像在顯示系統(tǒng)上。

試樣可為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號(hào)。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級(jí)聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序做柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射(以及其他物理信號(hào))，二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號(hào)被探測(cè)器收集轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，可得到反應(yīng)試樣表面形貌的二次電子像。



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二、掃描電子顯微鏡的主要性能參數(shù)及意義

1、放大率

與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以，SEM中，透鏡與放大率無(wú)關(guān)。

2、場(chǎng)深

在SEM中，位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點(diǎn)都可以得到良好的會(huì)焦而成象。這一小層的厚度稱為場(chǎng)深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用于納米級(jí)樣品的三維成像。

3、作用體積

電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用，它實(shí)際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用，所以存在一個(gè)作用“體積”。

作用體積的厚度因信號(hào)的不同而不同：

歐革電子：0.5～2納米。

次級(jí)電子：5λ，對(duì)于導(dǎo)體，λ=1納米；對(duì)于絕緣體，λ=10納米。

背散射電子：10倍于次級(jí)電子。

特征X射線：微米級(jí)。

X射線連續(xù)譜：略大于特征X射線，也在微米級(jí)。

4、工作距離

工作距離指從物鏡到樣品最高點(diǎn)的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場(chǎng)深。

如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。

通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象

次級(jí)電子和背散射電子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次級(jí)電子。

6、表面分析

歐革電子、特征X射線、背散射電子的產(chǎn)生過(guò)程均與樣品原子性質(zhì)有關(guān)，所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見(jiàn)作用體積），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射線分析最常用，所用到的探測(cè)器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，后者非常精確，可以檢測(cè)到“痕跡元素”的存在但耗時(shí)太長(zhǎng)。

三、用matlab給圖片做FFT，想在FFT上面加上比例尺。

這個(gè)首先要知道你原來(lái)的圖像的在實(shí)像素點(diǎn)數(shù) N 、采樣間隔dx

原來(lái)圖像是NxN像素大小的，分辨或每點(diǎn)的間隔dx

或者圖像實(shí)空間尺度，利用尺度除以采樣點(diǎn)數(shù)也就能都得到dx，每個(gè)像素點(diǎn)的空間間隔

那么采樣的空間頻率就是F=1/dx

圖中的圖像是經(jīng)過(guò)shift，把0頻移到圖像中心的fft圖像

根據(jù)采樣定律，得到的fft結(jié)果的范圍是-F/2~F/2，也是NxN點(diǎn)的

也就是fft的圖像分辨率是 F/N, 1/(N*dx),也就是原來(lái)圖像范圍的倒數(shù)

假設(shè)你的圖像原來(lái)范圍是1umx1um,像素點(diǎn)是512x512

那么你的fft圖像，每點(diǎn)的頻率間隔是 1(1/um),

kx的范圍是-256(1/um)~255(1/um)，間隔是1(1/um)

ky也是這個(gè)范圍

至于lambdax，lambda就是kx，和ky的倒數(shù)，將頻率變?yōu)椴ㄩL(zhǎng)

所以是非線性的，坐標(biāo)在圖中是不等間距的

四、掃描電鏡圖片怎么框起來(lái)

在設(shè)置里操作。

先打開(kāi)需要設(shè)置邊框的文件。

然后在上方菜單欄中找到頁(yè)面布局的標(biāo)簽頁(yè)，點(diǎn)擊打開(kāi)頁(yè)面邊框的菜單。

打開(kāi)頁(yè)面邊框菜單之后，可以根據(jù)需要進(jìn)行邊框的線型、顏色等設(shè)置，設(shè)置好之后點(diǎn)擊確定。

點(diǎn)擊確定之后，就可以看到文檔中已經(jīng)出現(xiàn)選取好的邊框圖樣。

以上就是關(guān)于掃描電鏡圖片相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問(wèn)題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。

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