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    AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-13 10:57:02     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 107        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于AM轉(zhuǎn)投到AFM的問(wèn)題,以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。

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    本文目錄:

    AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)

    一、國(guó)際上材料領(lǐng)域比較權(quán)威的雜志有哪些,AFM,AM全稱是什么

    雜志有:

    1、《Nature Reviews Materials》《自然評(píng)論材料》

    2、《Nature Energy》《自然能量》

    3、《NATURE MATERIALS》《自然材料》

    4、《Nature Nanotechnology》《自然納米技術(shù)》

    5、《ADVANCED MATERIALS》《先進(jìn)材料》

    6、《Advanced Energy Materials》《先進(jìn)能源材料》

    7、《Materials Today》《今日材料》

    8、《PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE》《材料科學(xué)進(jìn)展》

    9、《MATERIALS SCIENCE &  ENGINEERING R-REPORTS》《材料科學(xué)與工程研究報(bào)告》

    10、《INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS》《國(guó)際材料評(píng)論》

    AFM:ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS;原子力顯微鏡

    AM:Advanced Materials;先進(jìn)材料

    AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)

    擴(kuò)展資料

    AFM優(yōu)點(diǎn):

    原子力顯微鏡的出現(xiàn)無(wú)疑為納米科技的發(fā)展起到了推動(dòng)作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。

    與常規(guī)顯微鏡比較,原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是在大氣條件下,以高倍率觀察樣品表面,可用于幾乎所有樣品(對(duì)表面光潔度有一定要求),而不需要進(jìn)行其他制樣處理,就可以得到樣品表面的三維形貌圖象。并可對(duì)掃描所得的三維形貌圖象進(jìn)行粗糙度計(jì)算、厚度、步寬、方框圖或顆粒度分析。具體如下:

    1、高分辨力能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM),以及光學(xué)粗糙度儀。樣品表面的三維數(shù)據(jù)滿足了研究、生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗(yàn)越來(lái)越微觀化的要求。

    2、非破壞性,探針與樣品表面相互作用力為10-8N以下,遠(yuǎn)比以往觸針式粗糙度儀壓力小,因此不會(huì)損傷樣品,也不存在掃描電子顯微鏡的電子束損傷問(wèn)題。另外掃描電子顯微鏡要求對(duì)不導(dǎo)電的樣品進(jìn)行鍍膜處理,而原子力顯微鏡則不需要。

    3、應(yīng)用范圍廣,可用于表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙測(cè)定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層的尺寸臺(tái)階測(cè)定、層間絕緣膜的平整度評(píng)價(jià)、VCD涂層評(píng)價(jià)、定向薄膜的摩擦處理過(guò)程的評(píng)價(jià)、缺陷分析等。

    4、軟件處理功能強(qiáng),其三維圖象顯示其大小、視角、顯示色、光澤可以自由設(shè)定。并可選用網(wǎng)絡(luò)、等高線、線條顯示。圖象處理的宏管理,斷面的形狀與粗糙度解析,形貌解析等多種功能。

    參考資料:百度百科-AFM(原子力顯微鏡)

    二、AM重投是原來(lái)的審稿人嗎

    是。

    1、如果你在規(guī)定時(shí)間AM重投了,那么重投后的文章還是之前的審稿人審稿。

    2、過(guò)了期限之后你在投稿,就屬于AM重新投稿了,編輯會(huì)重新給你找審稿人。

    三、AM投稿多久送審

    “Under consideration”應(yīng)該還在編輯手上,下一個(gè)狀態(tài)就是尋找合適的審稿人,這個(gè)過(guò)程可能3天就完成,也可能長(zhǎng)達(dá)一個(gè)月,看審稿人容不容易找了。

    首先要起一個(gè)能打動(dòng)編輯與讀者的好的書名,還要有內(nèi)容簡(jiǎn)介、作者簡(jiǎn)介、目錄、樣張、市場(chǎng)調(diào)研觀點(diǎn),如果能請(qǐng)到有名氣的作者給寫個(gè)書評(píng),出書的把握就更大了。

    從發(fā)現(xiàn)電子公告牌功能分離出博客,電子商務(wù),維基百科,威客,搜索引擎開始,到2007年我們逐漸意識(shí)到互聯(lián)網(wǎng)正在向與人腦結(jié)構(gòu)高度相似的方向發(fā)展。

    AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)

    一稿多投:

    一稿多投,是指作者將自己享有著作權(quán)的某一未發(fā)表作品同時(shí)或在特定時(shí)限內(nèi)投寄給多家報(bào)刊雜志社或出版社等并希望被采用的行為,但國(guó)內(nèi)各大雜志社與各個(gè)媒體都不支持一稿多投,是作者將自己享有著作權(quán)的某一未發(fā)表作品投寄給報(bào)刊雜志社、廣播電視臺(tái)或出版社并希望被采用的行為。

    從作者與媒體出版部門之間就因投稿形成了合同法律關(guān)系,投稿無(wú)疑是形成這一關(guān)系的前置環(huán)節(jié);從合同法角度看,投稿這一民事行為應(yīng)屬于“要約邀請(qǐng)”而非“要約”。 最終的法律關(guān)糸形成,還需滿足有投稿→愿接受→尊守事先公約。

    四、國(guó)際上材料領(lǐng)域比較權(quán)威的雜志有哪些,AFM,AM全稱是什么?

    學(xué)光雜志,AFM全稱Atomic Force Microscope,AM全稱為:Advanced Materials。

    AFM即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè),或者直接進(jìn)行納米操縱。

    現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中。

    Advanced Materials是工程與計(jì)算大學(xué)科、材料與化學(xué)大領(lǐng)域(包含材料化學(xué),材料物理,生物材料,納米材料,光電材料,金屬材料,無(wú)機(jī)非金屬材料,電子材料等等非常多的子學(xué)科,以及非常大量與材料相關(guān)的研究領(lǐng)域)的頂尖期刊,在國(guó)際材料領(lǐng)域科研界上享譽(yù)盛名。

    其他:

    AFM優(yōu)點(diǎn):

    原子力顯微鏡的出現(xiàn)無(wú)疑為納米科技的發(fā)展起到了推動(dòng)作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。

    AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)

    AFM原理:

    當(dāng)原子間距離減小到一定程度以后,原子間的作用力將迅速上升。因此,由顯微探針受力的大小就可以直接換算出樣品表面的高度,從而獲得樣品表面形貌的信息。

    以上內(nèi)容參考:Advanced Materials-百度百科

    以上就是關(guān)于AM轉(zhuǎn)投到AFM相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問(wèn)題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢,客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。


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