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直讀光譜儀器(直讀光譜儀器廠家)
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本文目錄:
一、直讀光譜儀有哪些知名品牌
一、直讀光譜儀的品牌:
參考資料:
http://wenku.baidu.com/link?url=IJa4ALkKRfEg6Q3ByX0aHLZdyTG8s_4AS2SotXT2I7NW79jmFOBR_nVW19y5bClyyPmFSusvm-q2maco_-MvDxueUUzdXpSzxPIhBwgL7-a
二、直讀光譜儀的簡單介紹:
直讀光譜儀,英文名為OES(Optical Emission Spectrometer),即原子發(fā)射光譜儀 。最初由1934年成立瑞士ARL公司(瑞士應(yīng)用研究實(shí)驗(yàn)室)研制成功,并在二戰(zhàn)期間為美國戰(zhàn)機(jī)金屬外殼的研究做出了突出貢獻(xiàn),同時(shí)ARL光譜也得到很大發(fā)展,并在1946年推出了一款真正用于工業(yè)領(lǐng)域的直讀光譜 。隨著20世紀(jì)80年代計(jì)算機(jī)技術(shù)和軟件技術(shù)的發(fā)展,直讀光譜儀發(fā)展迅速。瑞士ARL公司相繼推出ARL3460、ARL4460型直讀光譜儀,并一舉奠定了其在光譜領(lǐng)域的地位。同時(shí)成立于1975年的OBLF公司和1975年的SPECTRO公司也相繼推出工業(yè)用直讀光譜儀,直讀光譜儀在爐前領(lǐng)域被廣泛認(rèn)可并迅速普及。
二、belec直讀光譜儀如何?
德國貝萊克Belec直讀光譜儀不激發(fā)維修故障分析盡管光譜儀是相對堅(jiān)固的儀器,但它們確實(shí)需要定期維護(hù)。即使正確維護(hù)了光譜儀,磨損也意味著偶爾需要進(jìn)行故障排除以使其按預(yù)期工作。凌科自動(dòng)化收到有關(guān)OES維護(hù)以及其光譜儀無法正常運(yùn)行的潛在問題的其他信息的請求。在按照一些常見的故障排除程序安排維修技術(shù)人員之前,可以避免進(jìn)行緊急維修或進(jìn)行維修。 可能導(dǎo)致在蒸發(fā),解離過程中的誤差,如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等,2)直讀光譜儀偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差,如試樣不均勻,檢測時(shí)周圍的溫濕度,電源電壓等的變化,樣品本身的成分差異等,3)直讀光譜儀過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果。
德國貝萊克Belec直讀光譜儀不激發(fā)維修故障分析
旋開紫外系統(tǒng)鏡片,磨損的電極可以用在磨床或車床上加工磨成90度錐角即可使用。如何更換直讀光譜儀器火花臺(tái)臺(tái)板火花臺(tái)板應(yīng)一直保持清潔以便與樣品有良好的接觸面,臺(tái)板應(yīng)避免幾何形狀不規(guī)則造成氬氣泄露,這種情況下應(yīng)更換臺(tái)板,換水水瓶(儀器右側(cè))中水的位置基本占1/2~2/3即可,干式過濾器火烤清理。盡量二次使用,無錫凌科自動(dòng)化電器科技有限公司期盼你的指導(dǎo)和合作,看過此文章還看了:為什么要選擇直讀光譜儀,直讀光譜儀具有分析精度高,穩(wěn)定性好,操作方便,應(yīng)用靈活,體積小,重量輕的特點(diǎn),可完成工廠來料與產(chǎn)品質(zhì)量控制過程中的合金材料鑒別分選及成分分析。石化設(shè)備的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)材料分析,廢舊金屬回收過程中的成份分析等,wxjb13直讀光譜儀是采用CCD光學(xué)技術(shù)和現(xiàn)代微電子元件相結(jié)合的現(xiàn)場金屬分析。
如何分辨光譜儀的分析結(jié)果不準(zhǔn)確?
容易拆卸,便于清潔,樣品臺(tái)適應(yīng)各種樣品形狀,電極壽命大于十萬次,優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計(jì),低氬氣消耗,樣品激發(fā)更充分,放電更集中,更好地保護(hù)了鏡頭不被污染,火花直讀光譜儀數(shù)據(jù)采集系統(tǒng):集成的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。如果您發(fā)現(xiàn)同一樣本的每個(gè)測試之間的結(jié)果差異很大,則說明結(jié)果存在問題。同一樣品的結(jié)果不應(yīng)有顯著差異。
德國貝萊克Belec直讀光譜儀不激發(fā)維修故障分析 是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一,能對金屬材料中化學(xué)元素成份作檢測,可對鐵基,鋁基,銅基,鎳基等廣泛元素作定量,2.分析基體數(shù):可配置Fe,Al等多種基體合金的成分測量3.測定元素:可以同時(shí)快速測定金屬固體樣品中的C。 為保證測試的精密度,轉(zhuǎn)移后需要重新進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化操
三、斯派克直讀光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化ccd發(fā)紅
靈敏度重現(xiàn)性較差。斯派克直讀光譜儀在進(jìn)行工作時(shí),如果標(biāo)準(zhǔn)化ccd出現(xiàn)發(fā)紅的情況是因?yàn)殪`敏度重現(xiàn)性較差導(dǎo)致的。光譜儀是以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強(qiáng)度的裝置。
四、、介紹直讀光譜儀的結(jié) 構(gòu)、工作原理及功能?,,誰知道,幫幫忙,謝謝,盡量詳細(xì)點(diǎn)。
原理簡介:
光電直讀光譜儀為發(fā)射光譜儀,主要通過測量樣品被激發(fā)時(shí)發(fā)出代表各元素的特征光譜光(發(fā)射光譜)的強(qiáng)度而對樣品進(jìn)行定量分析的儀器。
目前無論國內(nèi)還是國外的光電直讀光譜儀,基本可按照功能分為4個(gè)模塊,即:
1、激發(fā)系統(tǒng):任務(wù)是通過各種方式使固態(tài)樣品充分原子化,并放出各元素的發(fā)射光譜光。
2、光學(xué)系統(tǒng):對激發(fā)系統(tǒng)產(chǎn)生出的復(fù)雜光信號(hào)進(jìn)行處理(整理、分離、篩選、捕捉)。
3、測控系統(tǒng):測量代表各元素的特征譜線強(qiáng)度,通過各種手段,將譜線的光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)化為電腦能夠識(shí)別的數(shù)字電信號(hào)??刂普麄€(gè)儀器正常運(yùn)作
4、計(jì)算機(jī)中的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):對電腦接收到的各通道的光強(qiáng)數(shù)據(jù),進(jìn)行各種算法運(yùn)算,得到穩(wěn)定,準(zhǔn)確的樣品含量。
二、光電直讀光譜儀4個(gè)模塊的種類和特點(diǎn):
1、激發(fā)系統(tǒng):
(1)高能預(yù)燃低壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:采用高能預(yù)燃,大幅降低了樣品組織結(jié)構(gòu)對原子化結(jié)果的影響
(2)高壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:采集光強(qiáng)不穩(wěn)定
(3)低壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:對同一樣品光強(qiáng)穩(wěn)定,但是對于樣品組織結(jié)構(gòu)對原子化的影響無能為力
(4)直流電弧激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:對樣品中的痕量元素光譜分辨率和檢出限有好效果。
(5)數(shù)控激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:按照樣品中各元素的光譜特性,把激發(fā)過程分為靈活可調(diào)的幾個(gè)時(shí)間段,每段時(shí)間只針對某幾個(gè)情況相近的元素給出最佳的激發(fā)狀態(tài)進(jìn)行激發(fā),并僅采集這幾個(gè)元素。把各元素的激發(fā)狀態(tài)按照試驗(yàn)情況進(jìn)行分類討論)
2、光學(xué)系統(tǒng):
(1)帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)(固定光路,凹面光柵及排列在羅蘭軌道上的固定出射狹縫陣列):光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,笨重,體積大。
(2)中階梯光柵交叉色散光學(xué)系統(tǒng)(采用雙單色器交叉色散技術(shù),達(dá)到了高級(jí)次同級(jí)的高分辨率,同時(shí)又用二次色散解決了光譜的級(jí)次重疊問題):體積小,分辨率高,一般采集接固體成像系統(tǒng)。
3、測控系統(tǒng):
(一)測量系統(tǒng):
(1)光電倍增管+積分電路+模數(shù)轉(zhuǎn)化電路:一般作為帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)或C-T光學(xué)系統(tǒng)的光譜采集器,一個(gè)光電倍增管加上之后的電路只能采集一根譜線 的強(qiáng)度。
(2)CCD/CID檢測器+DSP:一般作為中階梯光柵交叉色散光學(xué)系統(tǒng)的采集器,靈敏度略低于光電倍增管,但是可做全譜采集。
(二)控制:
(1)多層光電隔離的激發(fā)控制+光路控制+采集控制
(2)采用高抗干擾的通訊協(xié)議進(jìn)行可又?jǐn)?shù)據(jù)反饋的高效率控制。
4、計(jì)算機(jī)軟件及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):
(1)內(nèi)標(biāo)法
(2)通過標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)繪制曲線。
(3)通過PDA技術(shù)篩選數(shù)據(jù)。
(4)通過軟件通道的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行背景、以及第三元素干擾的去干擾運(yùn)算。
(5)通過控制樣品找回儀器的漂移量。
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