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SEM和TEM分別表征什么（sem與tem）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-14 08:38:01 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 129

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本文目錄:

1、SEM STM TEM 有什么區(qū)別？？？？
2、簡(jiǎn)述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和質(zhì)譜可獲得什么信息？
3、什么是TEM,SEM,FIM
4、電磁透鏡在tem和sem中的區(qū)別

SEM和TEM分別表征什么（sem與tem）

一、SEM STM TEM 有什么區(qū)別？？？？

SEM是掃描電鏡，所加電壓比較低，只是掃描用的，相當(dāng)于高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡，所加電壓高，可以打透樣品，觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)STEM是掃描透射，是掃描電鏡里面的一個(gè)功能，可以說(shuō)是山寨版的TEMSTM是掃描隧道顯微鏡，具體功能不太清楚了。

二、簡(jiǎn)述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和質(zhì)譜可獲得什么信息？

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息

TEM：材料的表面形貌，結(jié)晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成

FTIR：主要用于測(cè)試高分子有機(jī)材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結(jié)構(gòu)。如單鍵，雙鍵等等

Raman：通過(guò)測(cè)定轉(zhuǎn)動(dòng)能及和振動(dòng)能及，用來(lái)測(cè)定材料的結(jié)構(gòu)。

CV：CV曲線可以測(cè)試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導(dǎo)體行業(yè)可以得到直流偏壓

EIS：EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測(cè)試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息

BET：主要是測(cè)試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。

XRD：主要是測(cè)試材料的物性，晶型的。高級(jí)的XRD還可以測(cè)試材料不同晶型的組分。

質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學(xué)成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜

三、什么是TEM,SEM,FIM

透射電子顯微鏡(TEM)

掃描電子顯微鏡(SEM)

場(chǎng)離子顯微鏡(FIM)

其他的還有：

高壓電子顯微鏡(HVEM)、分析電子顯微鏡(AEM)、場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡(FEEM)、聲學(xué)顯微鏡(AM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)

電子顯微鏡差不多就這些了

四、電磁透鏡在tem和sem中的區(qū)別

SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結(jié)構(gòu)。

掃描電鏡是相當(dāng)與對(duì)物體的照相得到的是表面的只是表面的立體三維的圖象因?yàn)閽呙璧脑硎恰案兄蹦切┪锾岜浑娮邮艉蟀l(fā)出的此級(jí)電子

而透射電竟就相當(dāng)于普通顯微鏡只是用波長(zhǎng)更短的電子束替代了會(huì)發(fā)生衍射的可見(jiàn)光從而實(shí)現(xiàn)了顯微是二維的圖象會(huì)看到表面的圖象的同時(shí)也看到內(nèi)層物質(zhì) 就想我們拍的X光片似的內(nèi)臟骨骼什么的都重疊著顯現(xiàn)出來(lái) 總結(jié)就是透射雖然能看見(jiàn)內(nèi)部但是不立體掃描立體但是不能看見(jiàn)內(nèi)部只局限與表面。

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