正文

eds能譜分析原理（eds能譜分析的原理）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-14 03:39:45 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 56

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于eds能譜分析原理的問題，以下是小編對此問題的歸納整理，讓我們一起來看看吧。

開始之前先推薦一個(gè)非常厲害的Ai人工智能工具，一鍵生成原創(chuàng)文章、方案、文案、工作計(jì)劃、工作報(bào)告、論文、代碼、作文、做題和對話答疑等等

只需要輸入關(guān)鍵詞，就能返回你想要的內(nèi)容，越精準(zhǔn)，寫出的就越詳細(xì)，有微信小程序端、在線網(wǎng)頁版、PC客戶端

官網(wǎng)：https://ai.de1919.com。

創(chuàng)意嶺作為行業(yè)內(nèi)優(yōu)秀的企業(yè)，服務(wù)客戶遍布全球各地，如需了解SEO相關(guān)業(yè)務(wù)請撥打電話175-8598-2043，或添加微信：1454722008

本文目錄:

1、eds能譜分析報(bào)告元素的比例
2、eds是什么意思？
3、EDS及XRD的性能區(qū)別
4、EDS分析求助

eds能譜分析原理（eds能譜分析的原理）

一、eds能譜分析報(bào)告元素的比例

eds能譜分析報(bào)告元素的比例：2：1。

EDS主要檢測無機(jī)成分在固體微觀區(qū)域分布狀態(tài)，定量研究無機(jī)元素分布均勻程度。一般使用無標(biāo)樣定量分析，主元素的定量精度較高，相對誤差±2%范圍內(nèi)，微量及痕量元素相對誤差很大。

地下金屬探測器采用聲音報(bào)警及儀表顯示，探測深度跟被探金屬的面積、形狀、重量都有很大的關(guān)系，一般來說，面積越大，數(shù)量越多，相應(yīng)的探測深度也越大；反之，面積越小，數(shù)量越少，相應(yīng)的深度就越小。

eds能譜分析原理（eds能譜分析的原理）

測試原理

當(dāng)X射線光子進(jìn)入檢測器后，在Si（Li）晶體內(nèi)激發(fā)出一定數(shù)目的電子空穴對。產(chǎn)生一個(gè)空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個(gè)X射線光子造成的空穴對的數(shù)目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經(jīng)過前置放大器轉(zhuǎn)換成電流脈沖，電流脈沖的高度取決于N的大小。

以上內(nèi)容參考：百度百科-能譜儀

二、eds是什么意思？

eds是指能譜儀。

能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。

eds能譜分析原理（eds能譜分析的原理）

指標(biāo)：

固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好

檢出角：理論上該角度越大越好

探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器

能量分辨力：最高級別的能譜儀分辨力可達(dá)121eV

探測元素范圍：Be4～U92

三、EDS及XRD的性能區(qū)別

1、EDS是針對一些元素的含量進(jìn)行測試，XRD是測試晶體結(jié)構(gòu)的。

2、EDS

(Energy

Dispersive

Spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。在微米或納米尺度上對掃描電鏡或透射電鏡內(nèi)通過電子碰撞所產(chǎn)生的X射線的能量進(jìn)行測量來確定物質(zhì)化學(xué)成分。分析范圍：4-100號元素定性定量分析。

特點(diǎn)：

（1）能快速、同時(shí)對各種試樣的微區(qū)內(nèi)Be-U的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。

（2）對試樣與探測器的幾何位置要求低：對W.D的要求不是很嚴(yán)格；可以在低倍率下獲得X射線掃描、面分布結(jié)果。

（3）能譜所需探針電流?。簩﹄娮邮丈浜笠讚p傷的試樣，例如生物試樣、快離子導(dǎo)體試樣、玻璃等損傷小。

（4）檢測限一般為0.1%－0.5%，中等原子序數(shù)的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。

3、XRD，X射線衍射是測定晶體結(jié)構(gòu)的。X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。

四、EDS分析求助

1. 可以。無論是SEM還是TEM均可，只是多數(shù)情況下，EDS采用無標(biāo)樣定量，定量分析結(jié)果是半定量的，不能作為決斷性證據(jù)，而只能做其他表征手段的support information。分析方法很簡單，EDS能譜都有直接定量分析的功能，為了準(zhǔn)確，你可以多點(diǎn)分析（大于20個(gè)點(diǎn)），取平均值。2. 一個(gè)點(diǎn)的分析區(qū)域?qū)τ谕ǔ５腟EM區(qū)域是以電子束束斑為大小的圓斑，往下是一個(gè)梨形擴(kuò)展區(qū)，通常會有幾個(gè)立方微米的空間，但如果只是一個(gè)單分散的納米顆粒，下面沒有其他干擾，分析區(qū)域可以準(zhǔn)確到電子束斑大小。對于TEM，則和后面的那種情況相同。順便說一下：在EDS采集樣品信息時(shí)，一般建議用取點(diǎn)分析，而不是取框，因?yàn)槿绻蛔鲈O(shè)定，通常一個(gè)點(diǎn)的分析時(shí)間和一個(gè)框的總分析時(shí)間相同，那么一個(gè)框的分析時(shí)間平均到每個(gè)區(qū)域點(diǎn)，會使采樣時(shí)間極其短暫，從而影響定量結(jié)果的準(zhǔn)確性（信號量不足會影響少量元素組分的定量）。

以上就是關(guān)于eds能譜分析原理相關(guān)問題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。