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sem圖怎么描述晶體形貌

發(fā)布時間：2023-04-13 23:59:15 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 63

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本文目錄:

1、SEM、TEM、XRD原理及區(qū)別
2、新手求助，如何判別金屬斷口SEM形貌
3、請教金相圖與SEM圖的區(qū)別~
4、SEM和TEM區(qū)別

sem圖怎么描述晶體形貌

一、SEM、TEM、XRD原理及區(qū)別

1、SEM

搜索引擎營銷：英文Search Engine Marketing ，我們通常簡稱為“SEM”。就是根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標用戶。簡單來說，搜索引擎營銷就是基于搜索引擎平臺的網(wǎng)絡營銷，利用人們對搜索引擎的依賴和使用習慣，在人們檢索信息的時候將信息傳遞給目標用戶。搜索引擎營銷的基本思想是讓用戶發(fā)現(xiàn)信息，并通過點擊進入網(wǎng)頁，進一步了解所需要的信息。企業(yè)通過搜索引擎付費推廣，讓用戶可以直接與公司客服進行交流、了解，實現(xiàn)交易。

2、TEM

（儀器名稱）

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結構，即小于0.2微米、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱“亞顯微結構”。

3、xrd

XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。

二、新手求助，如何判別金屬斷口SEM形貌

已經(jīng)斷開的的試樣可以用鋸子把斷裂截面切下來（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里觀察了。至于沒斷開，僅僅開裂的試樣，恐怕只能從式樣表面觀察一下了，同樣也是用句子把含有裂紋的部分切下來即可。時間久了的最大問題是氧化，但是作為SEM觀察，其實氧化也無所謂了，重要的是注意，別把斷口碰了，以免裂紋表面形貌損壞。關于尋找裂紋源其實很簡單，疲勞端口上通常分為裂紋起始區(qū)，裂紋擴展區(qū)和瞬斷區(qū)。裂紋起始區(qū)用肉眼看往往呈現(xiàn)為一個光亮的小點，在材料表面或者表面以下一點點的地方。如果樓主在斷口上看到有放射狀分布紋理，那么這些紋理發(fā)散開去的方向是裂紋擴展的防線，這些紋理匯聚的點就是疲勞源了。查看>>

三、請教金相圖與SEM圖的區(qū)別~

金相觀察是依賴可見光的反射,其原理是被腐蝕的晶界處發(fā)生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蝕的晶粒內部發(fā)生的是鏡面反射,在照片上是亮的.SEM分二次電子像和背散射電子像:二次電子像必須腐蝕樣品,不腐蝕的話什么都看不到.照完金相的樣品可以直接照二次電子,但照片的情況有所不同,<1000倍時,二次電子像觀察到的晶界是亮的,因為晶界被腐蝕掉,樣品在晶界出現(xiàn)棱角,二次電子的產(chǎn)額大,因此是量的,晶界內部反而暗.如果倍數(shù)放到足夠大,能夠看清晶界處的腐蝕程度和凹凸情況;背散射電子像是分析樣品的成分分布,最好不要腐蝕樣品,因為腐蝕樣品會把第二相腐蝕掉.

四、SEM和TEM區(qū)別

掃描電子顯微鏡 SEM(scanning electron microscope)

透射電鏡TEM (transmission electron microscope)

掃描電子顯微鏡

是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發(fā)的區(qū)域將產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講，利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質微觀形貌的信息;對x射線的采集，可得到物質化學成分的信息。正因如此，根據(jù)不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

透射電鏡

是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。其制備過程與石蠟切片相似，但要求極嚴格。要在機體死亡后的數(shù)分鐘釣取材，組織塊要小(1立方毫米以內），常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特制的超薄切片機（ultramicrotome）切成超薄切片，再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。電子束投射到樣品時，可隨組織構成成分的密度不同而發(fā)生相應的電子發(fā)射，如電子束投射到質量大的結構時，電子被散射的多，因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像，電子照片上則呈黑色。稱電子密度高（electron dense）。反之，則稱為電子密度低（electron lucent）。

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