sem需要多少樣品（測sem需要多大的樣品）

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本文目錄:

• 1、請問納米粒子及納米改性乳液在做SEM和TEM時，要如何準(zhǔn)備樣品？

• 2、SEM與TEM的區(qū)別

• 3、聚合物想測SEM，如何制作樣品？

• 4、SEM掃描電鏡圖怎么看，圖上各參數(shù)都代表什么意思

一、請問納米粒子及納米改性乳液在做SEM和TEM時，要如何準(zhǔn)備樣品？

具體看看你的樣品有什么特征了，要能很好的分散在溶劑中，如果太黏，制樣的效果不好；還有就是如果忖度太低，需要染色，這樣效果要好點。制樣：一般附在銅網(wǎng)上，制成液體，滴在銅網(wǎng)上，干燥就行了

二、SEM與TEM的區(qū)別

一、性質(zhì)不同

1、SEM：根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標(biāo)用戶。

2、TEM：把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。

二、原理不同

1、TEM

（1）吸收像：當(dāng)電子被發(fā)射到高質(zhì)量和高密度的樣品時，主要的相位形成是散射。當(dāng)樣品的質(zhì)量和厚度較大時，電子的散射角較大，通過的電子較小，圖像的亮度較暗。早期透射電子顯微鏡（TEM）就是基于這一原理。

（2）衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應(yīng)于樣品中晶體各部分的不同衍射能力。當(dāng)出現(xiàn)晶體缺陷時，缺陷部分的衍射能力與整個區(qū)域的衍射能力不同，使得衍射波的振幅分布不均勻，反映了晶體缺陷的分布。

2、SEM

（1）用戶搜索；

（2）返回結(jié)果；

（3）查看結(jié)果；

（4）點擊內(nèi)容；

（5）瀏覽網(wǎng)站；

（6）咨詢搜索。

擴展資料：

TEM特點：

1、以電子束為光源，電磁場為透鏡。電子束的波長與加速電壓（通常為50-120千伏）成反比。

2、它由五部分組成：電子照明系統(tǒng)、電磁透鏡成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、記錄系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。

3、分辨率為0.2nm，放大倍數(shù)可達一百萬倍。

4、透射電鏡分析技術(shù)是一種高分辨率（1nm）高倍率的電子光學(xué)分析技術(shù)，它以波長很短的電子束為光源，聚焦于電磁透鏡成像。

5、用透射電鏡分析樣品，通常有兩個目的：一是獲得高倍率的電子圖像，二是獲得電子衍射圖樣。

6、透射電鏡常用于研究納米材料的結(jié)晶，觀察納米顆粒的形貌和分散度，測量和評價納米顆粒的粒徑。這是表征納米復(fù)合材料微觀結(jié)構(gòu)的常用技術(shù)之一。

參考資料來源：百度百科-TEM

參考資料來源：百度百科-搜索引擎營銷

三、聚合物想測SEM，如何制作樣品？

既然是看膜，就需要樓主決定要看自然狀態(tài)下的膜，還是制品的膜形貌了，制品自然要按照工藝制膜。如果能夠拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的導(dǎo)電膠帶上，處理方式和之前回答你的一樣，噴金、引導(dǎo)電膠。

四、SEM掃描電鏡圖怎么看，圖上各參數(shù)都代表什么意思

1、放大率：

與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關(guān)。

2、場深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小層區(qū)域內(nèi)的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用于納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發(fā)生作用，它實際上與一定厚度范圍內(nèi)的樣品原子發(fā)生作用，所以存在一個作用“體積”。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的分辨率。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特征X射線、背散射電子的產(chǎn)生過程均與樣品原子性質(zhì)有關(guān)，所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，后者非常精確，可以檢測到“痕跡元素”的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規(guī)則的（具螺旋對稱的活體高分子物質(zhì)或結(jié)晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

擴展資料：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數(shù)學(xué)的傅立葉變換關(guān)系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數(shù)值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬于活體膜之一的紫膜等一些由二維結(jié)晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

參考資料：百度百科-掃描電子顯微鏡

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