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xrd測試儀器（xrd測試儀器維修多少錢）

發(fā)布時間：2023-04-13 15:12:58 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 65

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關于xrd測試儀器的問題，以下是小編對此問題的歸納整理，讓我們一起來看看吧。

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本文目錄:

1、應用透射電子顯微鏡和XRD這兩種儀器時行物相分析時有哪些異同點
2、XRD分析儀在檢測時需要多少樣品？
3、xrd操作步驟
4、X射線粉晶衍射儀是什么，最好介紹能詳細點，謝謝··

xrd測試儀器（xrd測試儀器維修多少錢）

一、應用透射電子顯微鏡和XRD這兩種儀器時行物相分析時有哪些異同點

這區(qū)別大了，透射電子顯微鏡簡稱tem，就像給樣品拍照片一樣，直觀地觀察樣品的粒徑大小，是否均勻，形狀如何，通過高倍的透射電子顯微鏡還可以看到晶格，利用儀器自帶的軟件可以計算出晶面間距，這基本上是tem能夠得到的信息。

而xrd是根據(jù)樣品晶體對x射線的衍射得到衍射峰位圖，它直接得到的結果是一大堆數(shù)字，然后你可以利用excel或者origin軟件把圖畫出來，根據(jù)峰的位置和強度判斷是什么物質，根據(jù)峰是否尖銳定性觀測粒徑大小，結晶程度，根據(jù)得到的數(shù)據(jù)可以定量估算粒徑大小，晶格常數(shù)等等。

希望采納。

二、XRD分析儀在檢測時需要多少樣品？

不同的品牌產品在檢測時所需的樣品量其實是不同的。如奧林巴斯XRD分析儀在使用時用到檢測樣品的含量就非常少，只需要15毫克的樣品就可以完成分析，從而獲得優(yōu)質的檢測結果。特別是在野外做檢測的時候，奧林巴斯XRD分析儀所附贈的樣品工具包也可以輕松地制備樣品，而且檢測速度很快，非常有助于我們迅速做出正確的決策。對于其他的XRD分析儀來說，樣品太少會影響測結果，所以需要多少樣品主要取決于XRD分析儀產品檢測要求。

三、xrd操作步驟

樣品準備：

樣品在實驗前應磨成平滑去氧化的表面，并用酒精清洗，若用樣品是粉末，均勻平鋪粘在膠布上。

設備的操作步驟如下：

1.開實驗室電源，包括實驗室總電源，三相電源，儀器電源及冷卻循環(huán)水電源等。

2.打開控制軟件：打開計算機，打開桌面的“XG Operation” , 進入“XG control RINT2200 Target：Cu” 窗圖。

3.測試樣品放置：壓好樣品后，把樣品放入儀器前，一定要按儀器面板上的“DOOR OPEN”！直到聽見斷續(xù)的“嗶、嗶、…”蜂鳴聲，才可以打開儀器的鐵門放置樣品，取出樣品同樣操作，否則，X光會傷害人體！且損害儀器。

4.儀器對樣品測試：打開右系統(tǒng)樣品測試控制軟件：雙擊桌面的：“Standard measurement”，進入Standard measurement[Right]窗，注意此窗的Use列：Yes則用此行的測量條件，要求此列別的均為”No”；改好路徑名（Folder name）以及文件名（File name）；雙擊Condition列對應行的數(shù)字格，則進入該行的測量條件選擇，按需求設置好各參數(shù)后，點擊鍵，進入執(zhí)行測量。

5.關機過程：按要求關閉控制軟件，過 10分鐘后才能關冷卻循環(huán)水電源：按“停止”。

最后關計算機、空調、水。搞好衛(wèi)生、帶走廢液，關好窗、門（因為房間要抽濕，通常不用關總電源）。

四、X射線粉晶衍射儀是什么，最好介紹能詳細點，謝謝··

多晶粉末衍射儀

近十幾年來，隨著各種輻射檢測器（計數(shù)器）廣泛應用，除點探測器（SC）外，還出現(xiàn)了線（1D）探測器（PSPC或稱為PSD）、面(2D)探測器（CADDS.Hi—star,CCD,IP）等記錄衍射強度的儀器，已應用到許多領域以取代經(jīng)典照相法完成記錄多晶樣品的衍射圖。

粉末衍射儀的結構示意圖見附圖。光源A發(fā)出的X射線經(jīng)梭拉（soller）狹縫和發(fā)散狹縫入射到粉晶樣品，引起的衍射線經(jīng)散射狹縫、梭拉狹縫和接收狹縫再經(jīng)單色器進入計數(shù)器。計數(shù)器可用閃爍計數(shù)器或氣體電離計數(shù)器如正比計數(shù)器、蓋革計數(shù)器等，以每秒接收到的脈沖計數(shù)（cps）為計量單位代表衍射光強度。樣品（臺）和計數(shù)器實施聯(lián)動掃描，兩者掃描角速度嚴格保持θ/（2θ）=1/2的關系。像這樣接收到的只能是對稱反射的衍射線，它們全是滿足布拉格衍射條件的那些晶面的衍射線，其它的晶面形成的衍射線被各種狹縫所阻斷，不可能達到接受器所處的位置。掠射角（布拉格角）θ是0°時接收到的是X射線透射強光，此范圍內不可能獲得任何衍射線信息。一般衍射儀都從θ=7°左右(現(xiàn)在有的譜儀可以優(yōu)化到從5°左右）開始進行赤道掃描,獲得的信號是其衍射空間反射球赤道上的衍射信息及其強度分布。附圖右圖是NaCl晶體的衍射花樣圖（a,b)和NaCl粉晶的XRD譜(c)，(c)中橫坐標是衍射角2θ的度數(shù)，縱坐標是衍射強度。這種衍射曲線還原的衍射花樣與平板照相所得衍射花樣有差別；平板照相中參與衍射的點陣面的幾率與衍射儀的不一致，平板照相的衍射幾何相當于衍射儀中垂直透射時的衍射幾何排布。這一差異在研究各向異性結晶材料，例如取向高聚物等時尤應注意。對有擇優(yōu)取向的樣品的赤道掃描的衍射強度不能代表樣品的真實衍射強度。各向異性樣品的衍射曲線會依賴相對于方向軸不同的安放角度而有所差異。改變樣品安放角度研究這種差異可以確定單軸取向或雙軸取向的取向方向。

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