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SEM表征(sem表征分析)
大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于SEM表征的問題,以下是小編對此問題的歸納整理,讓我們一起來看看吧。
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本文目錄:
一、xrd sem表征差異
具體概念:http://baike.baidu.com/view/116780.html?wtp=tt
檢測方法:用XRD檢測儀檢測
表征差異:跟標準圖譜對比,根據(jù)波峰的差異可以得到相關(guān)的信息。
二、掃描電鏡SEM是指什么?
掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。
三、為什么做SEM表征時選用Si(111)做基底,而不是Si(100) ,求高手指教
沒啥關(guān)系,主要Si111容易獲得,價格便宜。
這里基底起到載物臺作用。
四、sem對塑料可以eds嗎
不可以。
由于微塑料尺寸較小,我們可以嘗試EDS觀測其形貌。樣品形貌均一,元素分布均勻,無明顯微塑料的信息,多次嘗試未果,所以未經(jīng)分離富集的土壤樣本直接進行微觀分析,難以發(fā)現(xiàn)微塑料的信息。eds穿透能力和樣品密度也有關(guān)的。
eds不是表面技術(shù),和sem形貌信號源完全不同,當(dāng)然沒可比性,eds縱向分析深度至少也是微米級。掃描電鏡的能譜分析就是分析的表面附近一兩個微米以內(nèi)范圍的成分。這是因為電子束的能量有限,不可能打到厚度較深的區(qū)域。sem電子束的穿透深度是微米級的,如果你樣品表面只有幾納米,建議用其他表征方法。sem穿透深度和你用的加速電壓有關(guān)系,電壓小穿透淺,你可以試試用5千伏特。
以上就是關(guān)于SEM表征相關(guān)問題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問題,您也可以聯(lián)系我們的客服進行咨詢,客服也會為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。
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