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SEM測定樣品的具體流程（sem測定樣品的具體流程圖）

發(fā)布時間：2023-04-03 18:30:59 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 113 當(dāng)前文章關(guān)鍵詞排名出租

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本文目錄:

1、請問大家，SEM樣品都是如何進(jìn)行前處理的？
2、超細(xì)銀粉sem制樣怎么做
3、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先后順序？
4、想對樣品形貌做SEM測試，求助~謝謝了，大神幫忙啊

SEM測定樣品的具體流程（sem測定樣品的具體流程圖）

一、請問大家，SEM樣品都是如何進(jìn)行前處理的？

用乙醇分散一下，然后涂在導(dǎo)電膠上，最后用洗耳球吹一下，把多余的吹掉

二、超細(xì)銀粉sem制樣怎么做

（1）對清洗過后的溶液，進(jìn)行稀釋過后采用的是上清液做測試還是下層濃溶液測試（理論粒徑為50nm和200nm）

最好都測試一下，二者可能尺寸上面有區(qū)別。

（2）銀粉溶液制備成功以后，沒有立即表征，遮光靜置幾天后，再做電鏡表征，是否有影響

只要排除對于樣品無影響，可以。

（3）是否需要干燥以后，取出粉末，再用乙醇溶解，取用這個溶液制樣

可以滴在導(dǎo)電硅片上。也可以做粉末置于導(dǎo)電膠上。

三、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先后順序？

薄膜樣品做XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先后順序。在這三個測試中原子力顯微鏡更具有優(yōu)勢。想了解更詳細(xì)的信息，推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。在高真空條件下執(zhí)行掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡測量可減少所需的針尖-樣本相互作用力，從而大幅度降低對樣本和針尖的損傷。如此可延長各針尖的使用壽命，使掃描更加低成本和便捷，并通過提高空間分辨率和信噪比得到更為精確的結(jié)果。因此，利用NX-Hivac進(jìn)行的高真空掃描擴(kuò)散電阻顯微術(shù)測量可謂是故障分析工程師增加其吞吐量、減少成本和提高準(zhǔn)確性的明智選擇。

XRD、 SEM、AFD三者的區(qū)別：

1、 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)。

2、 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

3、 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導(dǎo)電樣品。

XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨制成粉末樣品。SEM和AFM根據(jù)樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預(yù)約測試時間來安排測試順序。

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